科研型原子力显微镜

型　号FM-Nanoview R-AFM

更新时间2025-10-30

所属分类科研型原子力显微镜

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产品描述：科研型原子力显微镜（FM-Nanoview R-AFM），高性能和高性价比的科学研究级AFM。

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产品特色：

◆ 高性能和高性价比的科学研究级AFM

◆ 支持多种工作模式和多种功能模块扩展，满足绝大多数的基础科研应用

◆ 开放式的结构设计，支持更多定制化的功能选择

◆ XYZ三轴独立闭环压电陶瓷扫描器，同时实现高精度的定位和高分辨扫描测量

◆ 闭环压电陶瓷扫描测量无需非线性校正，纳米表征和测量精度优于99.5%

技术参数：

扫描范围	XY闭环100*100um，Z闭环10 um	系统噪音水平	RMS≤30 pm
扫描分辨率	XY闭环0.2nm， Z闭环0.04nm	图像采样点	最高4096*4096
扫描速度	0.1Hz~100Hz	减震方式	气浮式减震台或主动式减震台
标准成像模式	接触模式、轻敲模式、相位成像、侧向力模式（LFM）
力学测量模式	F-Z力曲线、RMS-Z曲线、高级力谱成像、力学Mapping测量
电学测量模式	静电力模式（EFM）、导电力模式（C-AFM）、开尔文探针力模式（KPFM）、压电力模式（PFM）、扫描电阻模式（SSRM）、扫描电容模式（SCM）
磁学测量模式	磁力模式（MFM）、可调制外加磁场
纳米刻蚀功能	力学刻蚀、电学刻蚀
环境控制功能	液体成像模式、密闭气氛控制模式（特殊气体）、冷热一体温控模式（-20℃~200℃）、电化学测量模式
光学辅助功能	可适配体视显微镜、正置金相显微镜、倒置生物显微镜联用

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